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產品名稱:
測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2
發布時間:
2024-09-02
產品品牌:
Helmut Fischer/德國菲希爾
產品特點:
測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2
庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結構;它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法。
  測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2的詳細資料:

庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結構;它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法。 簡單的操作和菜單化的操作指導使該儀器成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個預留的應用程式(例如,鐵上鍍鋅,黃銅上鍍鎳),以及各種電解速度。這些應用程式適用于多鍍層系統。

      菲希爾庫侖測厚儀CMS2 STEP的特征是STEP測試功能(同時測定厚度和電位差)。 在多層鎳的量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試。 鍍層厚度根據庫侖法得出, 而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到

CMS2特征

?    大尺寸高分辨率的彩色顯示器
?    簡單的操作和圖示的用戶指導
?    使用V18支架實現半自動化測量
?    電解速度和測量面積的簡單選擇
?    電壓曲線圖形顯示
?    圖形和統計分析
?    多語言和計量單位可供選擇

CMS2 STEP殊功能
?    同時測量鍍層厚度和電位差
?    銀參比電極的簡單準備
?    可調節的電解電流

測量原理:

STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)(同時測量鍍層厚度和化學電位差)的簡寫, 是已經標準化很久的測量方法。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統中兩層之間的電化學電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量,電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測量。電壓曲線可以顯示在屏幕上,鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。

        為了獲得可以比較的穩定電位差測量結果,參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個問題通過特殊的測量槽得到解決。銀參比電極被設計成一個圓錐形的環狀電極,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。銀參比電極被設計成一個圓錐形的環狀電極,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設計保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。

 

系統概述:

一個測量系統包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個有測量槽的支架(例如:STEP測量槽) 。各種測量臺設計適合不同的應用。

 

廣泛的測量支架v18和的測量支架

v27測量線材上的鍍層厚度

 

固定工件的臺虎鉗,也同樣可以安裝在

V18和V24的支撐板上

 

篤摯儀器供應測量儀器,這些產品均由高品質的原材料和良好的技術制造,*,符合質量標準。我們經驗豐富的質量控制團隊對儀器提供的測試范圍進行了各種參數的測試。我們的產品系列因其高性能,高效率,增強的耐用性和成本效益而贏得了客戶的*。*,歡迎電詢!

產品相關關鍵字: Couloscope CMS2 Fischer 測鍍銀厚度儀 Couloscope
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